кристаллографические
индексы, целые числа, характеризующие расположение граней и соответствующих им атомных плоскостей в кристалле. М. и. связаны с длиной отрезков, отсекаемых соответствующей плоскостью на трёх осях кристаллографической системы координат. Длины отрезков, отсекаемых любой атомной плоскостью кристалла на осях координат, выраженные в постоянных решётки
а, b, с, всегда являются целыми числами
p1, p2,
p3. Если обратные им величины привести к общему знаменателю, а затем отбросить его, то полученные 3 целых числа
h =
p2p3, k =
p1p3, l =
p1p2 и есть М. и. Они записываются в круглых скобках (
hkl). Отрицательные М. и. обозначают плоскости, пересекающиеся с отрицательными направлениями осей координат. М. и. совокупности плоскостей, симметрично равных друг другу (см. Симметрия кристалла (См.
Симметрия кристаллов))
, записывают в фигурных скобках {
hkl}.
Помимо кристаллографии М. и. используются также в рентгенографии, электронографии и нейтронографии для обозначения пучков, рассеянных соответствующими атомными плоскостями кристалла.